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Ph.D | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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Nguyen van Cuong
Hongik Univ. Electronic and Electrical Engineering, Research Interest : GaN semiconductor devices for harsh environment Email : nvcuong23783@gmail.com |
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Master | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
±è½Âȯ(Seunghwan Kim)
Hongik Univ. Electronics and Electrical Engineering Research Interest : GaN HEMT Fabrication & Reliability test & Simulation Email : roqtyd@naver.com |
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¾ÈÁöȯ(Jihwan Ahn)
Hongik Univ. Electronics and Electrical Engineering Research Interest : GaN HEMT Fabrication & Reliability test & Simulation Email : jihwanch11@naver.com |
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ä¸í¼ö(Myeongsu Chae)
Hongik Univ. Electronics and Electrical Engineering Research Interest : GaN HEMT Fabrication & Reliability test & Simulation Email : chaems322@naver.com |
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Á¤ÁØ¿ì(Junwoo Jung)
Hongik Univ. Electronics and Electrical Engineering Research Interest : GaN HEMT Fabrication & Reliability test & Simulation Email : jjwmms@naver.com
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